
產品型號:SuperXAFS T2000
更新時間:2025-10-29
廠商性質:生產廠家
訪 問 量 :420
400-166-1915
國創科儀 寬能譜X射線吸收譜儀 SuperXAFS T2000
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滿足全部常規樣品測試的同時,亦可滿足特殊樣品測試,如磷、鉀、錒系、有毒、有放射性樣品等。
1.內置不同元素參數,快速切換測量。
2.提供標樣數據庫,簡化分析流程。
3.支持多樣品自動采集,減少進樣次數。
4.遠程實時監控,配備多重安全聯鎖設計。
國創科儀 寬能譜X射線吸收譜儀 SuperXAFS T2000
X射線吸收精細結構譜儀(XAFS/XES)是一種用于研究材料局部結構和電子狀態的非破壞性技術。該技術利用 X 射線與物質的相互作用,獲取指定元素的近邊吸收譜(XANES)、擴展遠邊吸收譜(EXAFS)和特定能帶發射譜,分別用于分析元素的化學狀態和價態、原子周圍局部環境的配位結構,以及甄別測量元素的配位原子類別,是表征晶態和非晶態材料微觀配位結構的重要手段。XAFS/XES主要應用于催化劑 、合金、陶瓷、環境污染物、各類晶態和非晶態材料及生物樣品內金屬離子的價態、配位結構及電子狀態分析,以及材料局部結構在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結構動態演化過程研究等。
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